Apresentarei aqui resultados de medidas de refletividade especular de raios-x realizadas em difratômetros de bancada (incluindo equipamentos do LabCri). Mostrarei que a qualidade dos dados experimentais das medidas e a intensidade obtida é equivalente a medidas realizadas em linhas de luz síncrotron para uma ampla variedade de amostras. Sendo esta uma técnica que utiliza baixos ângulos de espalhamento e captura o feixe refletido por uma superfície plana as condições necessárias para obtenção de bons resultados limitam-se apenas às amostras utilizadas. Discutirei em quais sistemas medidas deste tipo têm chance de sucesso e modelos simplificados para avaliação quantitativa de espessura, rugosidade interfacial, difusão e densidade (de massa e eletrônica) em filmes finos e multicamadas de materiais orgânicos e inorgânicos.