HISTÓRICO

ANOS 1970

O Laboratório de Cristalografia tem origem no Departamento de Física da UFMG, quando foi adquirido o difratômetro para policristais RIGAKU GEIGERFLEX, com geometria Bragg-Brentano, dentro de um projeto BNDE/FUNTEC.

A aquisição deste equipamento teve grande impacto na qualidade e na quantidade de trabalhos experimentais desenvolvidos na área de Materiais do Departamento de Física. Surpreendentemente, e graças a esforços amplos e constantes, este difratômetro continua em operação até os dias atuais.

1992

Neste ano houve uma importante ampliação da infraestrutura do LabCri com a aquisição de um difratômetro a 4-círculos SIEMENS P4 (hoje fora de ope(ração), com recursos provenientes da FAPEMIG, para estudos estruturais usando monocristais.Equipamento 1992 

2009

O LabCri recebeu um difratômetro a 4-círculos Oxford-Rigaku GEMINI para monocristais, adquirido com recursos da FINEP–PROINFRA. Este equipamento usa detector de área do tipo CCD, e dá a possibilidade de uso de radiação de dois diferentes anodos (atualmente Mo e Cu) e de realização de medidas em temperaturas entre 90 K e 300 K. Isto trouxe um grande aumento na velocidade e na qualidade das medidas, além de expandir muito o leque de opções de configurações experimentais.

2013

Foi adquirido com recursos CAPES-Pró-Equipamentos um difratômetro multitarefas Empyrean-PANalytical com detector bidimensional do tipo PIXEL DETECTOR, com ópticas de feixe paralelo, focalizadora e espelho monocromador, capaz de realizar uma enorme diversidade de análises com amostras policristalinas.

2019

Com recursos da FINEP/FNDCT foi adquirido um segundo difratômetro multitarefas Empyrean-PANalytical com detector bidimensional do tipo PIXEL DETECTOR. Este novo equipamento agregou a possibilidade de análises de filmes finos e nanomaterials.

2020

O LabCri recebeu um difratômetro a 4-círculos RIGAKU-Oxford Diffraction SINERGY para monocristais, adquirido com recursos da FINEP/FNDCT. Este equipamento usa detector de área do tipo PIXEL DETECTOR, e dá a possibilidade de uso de radiação de dois diferentes anodos (atualmente Mo e Cu) e de realização de medidas em temperaturas entre 90 K e 500 K.